OPTICAL SYSTEM


   Particle Image Velocimetry(PIV system)
 광시스템에서는 기존의 PIV를 시스템으로 판매하는 회사들과는 달리 고객이 원하는 사양이나 측정 응용에 맞추어 조언 및 실제 구현을 하여 고객이 원하는 데이터와 그 결과를 이용할 수 있도록 도움을 드리고 있습니다.  
 시스템의 구성은 아래와 같이 할 수 있습니다.
 1. 광원 및 레이저
 2. 카메라 또는 고속 카메라
 3. 카메라와 조명장치의 시간 동기화 장치
 4. 시트 옵틱장치
 5. PIV/PTV 소프트웨어
 6. 측정을 위한 이송장치(옵션)
 7. 광량 이송을 위한 Fiber cable.(옵션)
Laser Doppler Velocimetry  SYSTEM

레이저 도플러 속도 측정시스템은  도플러의 원리를 이용하여 유동의 속도를 측정하는 시스템입니다. 두 레이저 빔이 모이는 부분에 플린지가 형성이 되면 그 단면은 밝고 어두운 줄 들이 생깁니다.
 이 단면을 지나가는 입자들이 반사 또는 굴절을 일으켜서 빛이 수광부로 들어오면 전기적신호로 바꾸어 해석 하는 시스템입니다.  빛을 이용 하다보니 수 Mhz의 주파수를 분석을 하여야 함으로 세밀히 다루어야 합니다. 
 시스템의 구성은 다음과 같이 할 수 있습니다.
 1. 레이저 프로브 
 2. Signal processor.
 3. Software 
 4. Data managemnet (PC)
 5. 이송장치
 6. 속도에 따른 교체 프로브
PDI: Phase Doppler Interferometer
Droplet size and velocity measurements
위상 도플러 속도및 입자 측정 시스템은  레이저 두 빔이 모이는 부분에 발생하는 플린지에 입자가 지나가게 되면 지나가는 시간에 대하여서는 속도 성분을 계측 할 수 있고, 입자를 통과 해서 또는 반사되어서 나오는 빔의 각 위상을 3개의 수광부에 들어오는 위상차를 이용하여 입자의 크기를 측정 하는 시스템입니다.
시스템의 구성은 LDV와 그 구성차이가 별로 없으나 수광부와 빔을 조사사는 트랜스미터부를 달리 해야 하는 점이 있습니다.

 1. 레이저 프로브 (tranceiver)또는 트랜스미터(transmitter)
 2. Signal processor.
 3. Software 
 4. Data managemnet (PC)
 5. 이송장치
 6. 속도에 따른 교체 프로브 또는 Transmitter
LII: Laser Induced Incandescence
Instrument for soot characterization
Laser-induced incandescence (LII) is a technology that offers a reliable means for spatially and temporally measuring the soot (black carbon, elemental carbon) concentration and primary particle size in engine exhausts and in ambient air.
 
 It is an extremely sensitive measurement technique that offers unparalleled measured dynamic range and requires no sampling systems, diluting systems, or consumables such as filters. 
It is also provides real-time measurement (order of 10 Hz) and is suitable for dynamic measurements.



SCHILIREN PHOTO GRAPHY  SYSTEM
 균질한 빛 사이를 밀도를 가진 공기가 지나가면서 만들어지는 그림자에 의해 유동의 성질을 측정하는 시스템입니다. 아주 오랜전 부터 사용되어져온 유동 측정중 가시화 방식의 한 방법으로 사용되어져 왔으나 최근에는 PIV시스템과 연계되면서 정량화가 가능해지고 있습니다. 밀러를 이용한 가시화 기법뿐만 아니라 스크린을 이용하여 아주 넓은 영역도 가시화 가능하도록 하고 있습니다. 

 1. 쉬리렌 밀러 (파라볼릭 밀러 또는 타원 밀러)
 2. 평면밀러 (광경로 확장용)
 3. 조명광원(균질한 광원)
 4. 핀홀 및 나이프 엣지 시스템
 5. 카메라 및 스크린 
 6. PIV software (속도측정)-옵션
PLIF - Planar Laser- induced fluorescence
레이저로  측정영역을 조사하게 되면 입사되는 레이저의 파장에 의해 에너지가 다른 영역으로 이송 후 다시 제자리로 돌아오면서 특정한 빛을 내는데 이를 이용하여 특정 원소들의 성분과 그 양을 정량적으로 측정 할 수있게 됩니다.  이러한 원리를  이용하여 계측하는 방법을 LIF(laser induced Fluorescence)라 하고 이미지 인텐시파이 카메라를 이용하여 면으로 측정하는 것을 PLIF라 합니다.
주로 연소시 특정 화학종을 특징하거나 분포를 볼료고 하는 경우 많이 사용되어지지만 최근에는 Two Phase Flow와 같은 경우에도 많이 사용 합니다.

 1. 레이저 (여러가지  파장변화가 가능한  레이저)
 2. 카메라( EMCCD(backlight ccd camera), camera with Image intensifier )
 3. 켈리브래이션 버너(연소측정시)
 4. 고온 측정 온도측정 시스템(2000도)
 5. 가스질량유량 측정 시스템(정교한유량측정)
 6. 시트옵틱(가시광 및 uv용)
 7. 레이저 파워 측정 시스템
 8. 이송및 회전 시스템
 9. 분광시스템(옵션)-캘리브레이션 및 고온 측정(파이로메터용)